北京金恒博大科技有限公司
BEIJING JINHENGBODA TECHNOLOGY DEVELOPMENT CO.,LTD
一般來說,,半導(dǎo)體材料是制作半導(dǎo)體器件和集成電路的電子材料,,是半導(dǎo)體工業(yè)的基礎(chǔ)。迄今為止,,半導(dǎo)體材料主要分為:基于Ⅳ族硅Si,、鍺Ge元素的第一代半導(dǎo)體;基于Ⅲ-Ⅴ族砷化鎵、磷化銦的第二代半導(dǎo)體以及基于Ⅲ-Ⅴ族氮化鎵、Ⅳ族碳化硅的第三代半導(dǎo)體等,。
過去一年里,我們看到隨著市場(chǎng)對(duì)半導(dǎo)體性能的要求不斷提高,,及各種利好政策相繼出臺(tái),第三代半導(dǎo)體等新型化合物材料憑借其性能優(yōu)勢(shì)嶄露頭角,,迎來了產(chǎn)業(yè)爆發(fā)風(fēng)口,。
在第三代半導(dǎo)體萬眾矚目的時(shí)刻, 第四代半導(dǎo)體也正逐漸進(jìn)入我們的視線 ,。
半導(dǎo)體材料的發(fā)展之路
· 第一代的半導(dǎo)體材料:以硅(Si),、鍺(Ge)為代表
在半導(dǎo)體材料的發(fā)展歷史上,1990年代之前,,作為第一代的半導(dǎo)體材料以硅材料為主占絕對(duì)的統(tǒng)治地位,。目前,半導(dǎo)體器件和集成電路仍然主要是用硅晶體材料制造的,,硅器件構(gòu)成了全球銷售的所有半導(dǎo)體產(chǎn)品的95%以上,。硅半導(dǎo)體材料及其集成電路的發(fā)展導(dǎo)致了微型計(jì)算機(jī)的出現(xiàn)和整個(gè)信息產(chǎn)業(yè)的飛躍。
· 第二代半導(dǎo)體材料:以砷化鎵(GaAs),、磷化銦(InP)為代表
隨著以光通信為基礎(chǔ)的信息高速公路的崛起和社會(huì)信息化的發(fā)展,,以砷化鎵、磷化銦為代表的第二代半導(dǎo)體材料嶄露頭角,,并顯示其巨大的優(yōu)越性,。砷化鎵和磷化銦半導(dǎo)體激光器成為光通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵器件,同時(shí)砷化鎵高速器件也加速了光纖及移動(dòng)通信新產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,。主要應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)楣怆娮?、微電子、微波功率器件等?/p>
· 第三代半導(dǎo)體材料:以氮化鎵(GaN),、碳化硅(SiC)為代表
以氮化鎵和碳化硅為代表的第三代半導(dǎo)體材料,,具備高擊穿電場(chǎng)、高熱導(dǎo)率,、高電子飽和速率及抗強(qiáng)輻射能力等優(yōu)異性能,,更適合于制作高溫,、高頻、抗輻射及大功率電子器件,,是固態(tài)光源和電力電子,、微波射頻器件的“核芯”,在半導(dǎo)體照明,、新一代移動(dòng)通信,、能源互聯(lián)網(wǎng)、高速軌道交通,、新能源汽車,、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景,有望突破傳統(tǒng)半導(dǎo)體技術(shù)的瓶頸,。
· 第四代半導(dǎo)體材料:以氧化鎵(Ga2O3)為代表
第四代半導(dǎo)體材料主要是以金剛石(C),、氧化鎵(GaO)、氮化鋁(AlN)為代表的超寬禁帶(UWBG)半導(dǎo)體材料,,禁帶寬度超過4eV,,以及以銻化物(GaSb、InSb)為代表的超窄禁帶(UNBG)半導(dǎo)體材料,。在應(yīng)用方面,,超寬禁帶材料會(huì)與第三代材料有交疊,主要在功率器件領(lǐng)域有更突出的特性優(yōu)勢(shì),;而超窄禁帶材料,,由于易激發(fā)、遷移率高,,主要用于探測(cè)器,、激光器等器件的應(yīng)用。
然而,,需要注意的是,,這四代半導(dǎo)體之間并不是迭代關(guān)系,它們的應(yīng)用場(chǎng)景有交叉,,但不完全重合,。
隨著量子信息、人工智能等高新技術(shù)的發(fā)展,,半導(dǎo)體新體系及其微電子等多功能器件技術(shù)也在更新迭代,。雖然前三代半導(dǎo)體技術(shù)持續(xù)發(fā)展,但也已經(jīng)逐漸呈現(xiàn)出無法滿足新需求的問題,,特別是難以同時(shí)滿足高性能,、低成本的要求
相比其他半導(dǎo)體材料,第四代半導(dǎo)體材料擁有體積更小、能耗更低,、功能更強(qiáng)等優(yōu)勢(shì),,可以在苛刻的環(huán)境條件下能夠更好地運(yùn)用在光電器件、電力電子器件中,。
目前具有發(fā)展?jié)摿Τ蔀榈谒拇雽?dǎo)體技術(shù)的主要材料體系主要包括:窄帶隙的銻化鎵,、銦化砷化合物半導(dǎo)體;超寬帶隙的氧化物材料,;其他各類低維材料如碳基納米材料,、二維原子晶體材料等。
氧化鎵材料的特性
作為新型的寬禁帶半導(dǎo)體材料,,氧化鎵(Ga2O3)由于自身的優(yōu)異性能,,憑借其比第三代半導(dǎo)體材料SiC和GaN更寬的禁帶,在紫外探測(cè),、高頻功率器件等領(lǐng)域吸引了越來越多的關(guān)注和研究,。
氧化鎵是金屬鎵的氧化物,同時(shí)也是一種半導(dǎo)體化合物,。其結(jié)晶形態(tài)截至目前已確認(rèn)有α,、β、γ,、δ、ε五種,,其中,,β相最穩(wěn)定。β-Ga2O3的禁帶寬度為4.8~4.9eV,,擊穿場(chǎng)強(qiáng)高達(dá)8MV/cm,。
半導(dǎo)體材料特性
氧化鎵在光電子器件方面有廣闊的應(yīng)用前景,被用作于Ga基半導(dǎo)體材料的絕緣層,,以及紫外線濾光片,。這些是氧化鎵的傳統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域,而其在未來的功率,、特別是大功率應(yīng)用場(chǎng)景才是更值得期待的,。
目前第三代半導(dǎo)體的火爆,就是因?yàn)樾碌牟牧象w系可以在高壓,、大功率情況下采用單極器件,,即使用SiC MOSFET、GaN HEMT,、Ga2O3 FET,,取代硅基的IGBT,除了產(chǎn)品可靠性、電流能力,、成本下降空間尚需要一定時(shí)間驗(yàn)證外,,幾乎全面實(shí)現(xiàn)了前面所提到功率器件發(fā)展的所有訴求。而大規(guī)模制造和應(yīng)用會(huì)帶來成本和售價(jià)的降低,,從而繼續(xù)鞏固市場(chǎng)主流技術(shù)地位,,這也是超/寬禁帶半導(dǎo)體應(yīng)用的前景。
而Ga2O3既能做高耐壓,,也可實(shí)現(xiàn)大電流能力,,相較于當(dāng)前SiC器件過流能力不超過200A的規(guī)格限制,可達(dá)到數(shù)百A甚至上千A,,性能優(yōu)秀且成本更低,,在大功率應(yīng)用(如電力)當(dāng)中可直面挑戰(zhàn)IGBT上千甚至數(shù)千A的霸主地位。
關(guān)鍵材料(Si/SiC/GaN/GaO)特性對(duì)比(IEEE)
相關(guān)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,,從數(shù)據(jù)上看,,氧化鎵的損耗理論上是硅的1/3000、碳化硅的1/6,、氮化鎵的1/3,,即在SiC比Si已經(jīng)降低86%損耗的基礎(chǔ)上,再降低86%的損耗,,這讓產(chǎn)業(yè)界人士對(duì)其未來有很高的期待,。
此外,GaO材料的缺陷密度比SiC和GaN材料低至少3個(gè)數(shù)量級(jí),,這在芯片加工中可以規(guī)避很多問題,,而且由于是同質(zhì)外延,器件不會(huì)像GaN一樣出現(xiàn)晶格失配問題,。
而成本更是讓其成為一個(gè)吸引產(chǎn)業(yè)關(guān)注的另一個(gè)重要因素,。從同樣基于6英寸襯底的最終器件的成本構(gòu)成來看,基于GaO材料的器件成本為195美金,,是SiC材料器件成本的約五分之一,,已與硅基產(chǎn)品的成本所差無幾。
GaO和藍(lán)寶石一樣,,可以從溶液狀態(tài)轉(zhuǎn)化成塊狀(Bulk)單結(jié)晶狀態(tài),。實(shí)際上,通過運(yùn)用與藍(lán)寶石晶圓生產(chǎn)技術(shù)相同的導(dǎo)模法EFG(Edge-defined Film-fed Growth),,日本NCT已試做出最大直徑為6英寸(150mm)的晶圓,,直徑為2英寸(50mm)的晶圓已經(jīng)開始銷售作研究開發(fā)方向的用途。這種工藝的特點(diǎn)是良品率高,、成本低廉,、生長(zhǎng)速度快,、生長(zhǎng)晶體尺寸大。
另一家Flosfia使用的“霧化法”已制作出4英寸(100mm)的α相晶圓,,成本已接近于硅,。而碳化硅(SiC)與氮化鎵(GaN)材料目前只能使用“氣相法”進(jìn)行制備,未來成本也將繼續(xù)受到襯底高成本的阻礙而難以大幅度下降,。對(duì)于Ga2O3來說,,高質(zhì)量與大尺寸的天然襯底,相對(duì)于目前采用的寬禁帶SiC與GaN技術(shù),,將具備獨(dú)特且顯著的成本優(yōu)勢(shì),。
GaO與SiC成本對(duì)比(EE POWER)
Ga2O3材料尺寸發(fā)展快速,短短幾年時(shí)間已經(jīng)追上了SiC和GaN當(dāng)前最大尺寸,,在量產(chǎn)經(jīng)濟(jì)性上已經(jīng)達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn),,同等加工能力的晶圓加工產(chǎn)線可以實(shí)現(xiàn)同等甚至更大規(guī)模的產(chǎn)量。而且,,Ga2O3成本極低,,這就可以讓器件研發(fā)成本更低、可以有充分的試錯(cuò)空間,,使開發(fā)和應(yīng)用都更有效率,。
如此看來,GaO很有可能在尺寸方面,,即大規(guī)模制造的可能性和成本方面對(duì)上述造成后來者居上的威脅,。